Abstrakt

Leistungsanalyse, Entwurf und Test eines 512-Bit-SRAM-Speicherchips mit dem Xilinx/Modelsim-Tool

Monika Solanki

In dieser Arbeit wurde ein Speicherchip mit einer Größe von 512 Bit unter Verwendung von Xilinx oder Model-Sim-Software entwickelt. Memory Built-in Self-Test (MBIST) oder, wie es manche nennen, Array Built-in Self-Test ist eine erstaunliche Logik. Ohne direkte Verbindung zur Außenwelt kann ein sehr komplexer eingebetteter Speicher effizient, einfach und kostengünstig getestet werden. Modellierung und Simulation von MBIST werden in dieser Arbeit vorgestellt. Die Designarchitektur ist in Very High Speed ??Integrated Circuit Hardware Description Language (VHDL)-Code unter Verwendung von Xilinx ISE-Tools geschrieben. Die Verifizierung dieser Architektur wird durch Testen von feststeckenden fehlerhaften SRAMs durchgeführt. Ein BIST-Algorithmus wird wie March C- und viele andere implementiert, um die fehlerhaften SRAMs zu testen.